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SoC Integration (CCTV) 용어집

핵심 용어 ISO 11179 형식 정의.


C — CCTV / Common Task / CDC

CCTV (Common Task Coverage Verification)

Definition. SoC 내 모든(또는 대부분의) IP에 공통으로 적용되어야 하는 검증 항목들이 빠짐없이 수행되었는지 추적하는 coverage 방법론.

Source. DVCon 2025 paper (ManGoBoost).

Related. Common Task, Coverage matrix.

See also. Module 02

Common Task

Definition. SoC 내 다수 IP에 공통으로 적용되는 검증 작업 (sysMMU access, Security 권한, DVFS, Clock Gating 등).

Source. SoC verification methodology.

Related. CCTV, sequence library.

See also. Module 02

CDC (Clock Domain Crossing)

Definition. 서로 다른 clock domain 간 신호 전달 시 발생하는 metastability 문제와 그 해결 메커니즘.

Source. Digital design literature.

Related. Synchronizer, FIFO, Gray code.

See also. Module 01


D — DVFS

DVFS (Dynamic Voltage and Frequency Scaling)

Definition. 워크로드에 따라 voltage와 clock frequency를 동적으로 조정해 전력을 절감하는 기법.

Source. Power management literature.

Related. Common Task, retention.


I — IP / Interconnect

IP (Intellectual Property)

Definition. SoC를 구성하는 재사용 가능한 design block (CPU, GPU, DMA, peripheral 등).

Interconnect

Definition. SoC 내 IP 간 통신을 매개하는 fabric (NoC, AMBA AXI bus 등).


R — RAL

RAL (Register Abstraction Layer)

Definition. UVM의 register 모델 추상화로, DUT의 register map을 SystemVerilog object로 표현해 SW 시뮬레이션 동등 access를 가능하게 함.

Source. UVM 1.2 Reference Manual, §18.

Related. uvm_reg_block, mirror, predict.

See also. UVM Module 04


S — SoC / SubsystemID

SoC (System-on-Chip)

Definition. CPU + GPU + memory controller + 다수 peripheral을 단일 silicon에 통합한 chip.

sysMMU

Definition. SoC 레벨 IOMMU/SMMU. CPU 외 device 마스터의 memory access를 가상 주소로 격리.

See also. MMU Module 04


V — Virtual Sequencer / Virtual Sequence

Virtual Sequencer

Definition. UVM의 multi-agent 환경에서 sub-sequencer 핸들들을 보유하고, 시스템 레벨 시나리오를 조정하는 sequencer.

Source. UVM 1.2 Reference Manual.

See also. UVM Module 03


추가 약어

약어 풀네임 의미
TB Testbench 검증 환경 전체
DUT Device Under Test 검증 대상
VIP Verification IP 재사용 검증 IP
NoC Network-on-Chip 패킷 스위칭 인터커넥트
SCB Scoreboard 결과 비교 컴포넌트
CG Covergroup 기능 커버리지 단위
LLM Large Language Model AI 자동화의 핵심
POR Power-On Reset 시스템 첫 reset
DFT Design For Test scan/BIST 등 테스트 회로